薄膜厚度測試儀 臺式測厚儀 電子膜厚儀——C640是一款高精度、高重復性的機械接觸式精密測厚儀，專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量?？蛇x配自動進樣機，更加準確、高效的進行連續(xù)多點測量。

設備技術特征：

1、Labthink在不斷的創(chuàng)新研發(fā)和技術積累中推陳出新，使用超高精度的位移傳感器、科學的結構布局及專業(yè)的控制技術，實現(xiàn)*測試穩(wěn)定性、重復性及精度。

2、采用高效率、自動化結構設計，有效簡化人員參與過程；智能的控制及數(shù)據(jù)處理功能，為用戶提供更便捷可靠的試驗操作和結果處理。

3、搭載Labthink新一代版控制分析軟件，具有友好的操作界面、智能的數(shù)據(jù)處理、嚴格的人員權限管理和安全的數(shù)據(jù)存儲；支持Labthink*的DataShieldTM數(shù)據(jù)盾系統(tǒng)（可選配置），為用戶提供極為安全可靠的測試數(shù)據(jù)和測試報告管理功能。

測試原理：

將預先處理好的薄型試樣的一面置于下測量面上，與下測量面平行且中心對齊的上測量面，以一定的壓力，落到薄型試樣的另一面上，同測量頭一體的傳感器自動檢測出上下測量面之間的距離，即為薄型試樣的厚度。

執(zhí)行標準：

ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702

中國《藥品生產(chǎn)質量管理規(guī)范》（GMP）對軟件的有關要求（可選配置）

薄膜厚度測試儀 臺式測厚儀 電子膜厚儀應用材料：

基礎應用：

薄膜、薄片——各種塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度測定

紙——各種紙張、紙板、復合紙板等的厚度測定

擴展應用：

金屬片、硅片——硅片、箔片、各種金屬片等的厚度測定

瓦楞紙板——瓦楞紙板的厚度測定

紡織材料——各類紡織材料如編織織物、針織物、涂層織物等的厚度測定

非織造布——各類非織造布如尿不濕、衛(wèi)生巾、口罩等的厚度測定

其它材料——固體電絕緣材料、膠黏帶、土工合成材料、橡膠等的厚度測定

技術指標：

① C640M型號參數(shù)：

測試范圍（標配）：0～2mm

分辨率：0.1μm

重復性：0.8μm

測量范圍（選配）：0～6、0～12mm

測量間距：0～1000mm（可設定）

進樣速度：1.5～80mm/s（可設定）

附加功能：

自動進樣機：可選配置

DataShieldTM數(shù)據(jù)盾：可選配置

GMP計算機系統(tǒng)要求：可選配置

測量方式：機械接觸式

測量壓力及接觸面積：

薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2

紙張：100±1 kPa(標準配置) / 50±1 kPa（可選配置）、200 mm2

電源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz

外形尺寸：370mm(L)×350mm(W)×410mm(H)

凈重：26kg

② C640H型號參數(shù)：

測試范圍（標配）：0～2mm

分辨率：0.1μm

重復性：0.4μm

測量范圍（選配）：0～6、0～12mm

測量間距：0～1000mm（可設定）

進樣速度：1.5～80mm/s（可設定）

附加功能：

自動進樣機：可選配置

DataShieldTM數(shù)據(jù)盾：可選配置

GMP計算機系統(tǒng)要求：可選配置

測量方式：機械接觸式

測量壓力及接觸面積：

薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2

紙張：100±1 kPa(標準配置) / 50±1 kPa（可選配置）、200 mm2

電源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz

外形尺寸：370mm(L)×350mm(W)×410mm(H)

凈重：26kg